口袋比较器校准

目的

本程序的目的是为袖珍比较器的校准提供一般说明。

范围

该一般方法应在不存在任何特定的校准过程的袖珍比较器被用于

过程

口袋比较器是用于在平坦表面上测量小特征和/或凹痕，划痕等小型精密光学测量仪器。该仪器配备有蚀刻的线性标尺，角度刻度，以及各种孔尺寸。器械被放置在对特征进行测量时，选择了适当的规模和尺寸是直接从被蚀刻的刻度读出。该仪器采用了便于阅读的各种比例的放大倍数。

初步指示及注意事项

1. 在开始校准前，请阅读整个程序。
2. 校准应在环境符合制造商的说明书进行。
3. 袖珍比较器以后将被称为待测仪器(IUT)。
4. 检查IUT是否干净。
5. 目视检查IUT中任何可能导致校准误差的条件。
6. 彻底清洁IUT的镜头用柔软的镜头组织。
7. 如果不能满足任何要求，请参阅适用的制造商手册。
8. 如果在校准过程中发现故障或缺陷，应停止校准并采取必要的纠正措施;如果纠正措施影响了先前校准的测量功能，则应在实施程序的其余部分之前对该功能进行重新校准。

参考资料

适用的制造商手册或小册子。

规范

IUT的规格由适用的制造商文件确定。如果没有制造商的文件，则使用本程序中确定的规格。

设备要求

以下所列标准的选择应基于它们相对于国际标准化组织更高的精度水平。等效标准必须等于或优于最小使用规格。

所列标准的最小使用规格是IUT要求精度的1/4。

详细的过程

1. 广场上的光学比较半径图。此图表将用于仅参考。
2. 从IUT上取下雕刻的鳞片。
3. 将刻度安装在V-Block中，然后将V-Block安装到光学比较器的工作台上。
4. 将比较器放大开关设置为20，将水平开关设置为水平位置。调整光强和对焦控制，以获得最佳视觉效果。
5. 根据需要旋转IUT，直到IUT的比例与比较器屏幕上的垂直线一致。将比较器电子读数调零。

线性刻度校准

1. 调整工作台千分尺，直到IUT刻度的第一个主要部分与比较器屏幕上的垂直线重合。
2. 比较IUT读数与比较器的数字读数。
3. 调整工作台千分尺，直到下一个刻度与垂直线重合，并比较读数。
4. 对IUT上的其余主要部分重复步骤8。

圆形刻度校准

1. 调整比较仪的工作台，使待测圆内径的左手边与比较仪屏幕的垂直线重合。
2. 利用工作台上的测微头，移动工作台，直到圆的右手边与屏幕的垂直线重合。比较IUT读数与比较器的数字读数。
3. 在IUT上重复步骤10和11。

半径比例校准

1. 调整比较器工作台，直到IUT的半径与比较器上的基准线重合。将数字读数调零。
2. 调节测微头，直到与上比较器参考线半径一致的右侧。比较IUT读出与比较器数字读出。
3. 对IUT上的剩余半径重复步骤13和14。

补发的理由

修订A -第一次发布